ERICHSEN233干膜测厚仪

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应用
在所有平面上
测试原理
涂层上表面和暴露基材区域间的高度差（D） 通过表盘下自由移动的插针(1)测量，两个支脚(2) 置于涂层表面
设计和功能
表盘仪器密闭在一镀铬的金属壳中。支脚从 仪器底部伸出，插针有保护套。保护套一侧的槽 用于调节插针，插针通过一块玻璃板的平面调节， 此配件包括在供货范围中。带附件的表盘装在一 个盒子中。
测量程序
1) 设置 2) 测量点准备 3) 测量 在所有平面上
 涂层上表面和暴露基材区域间的高度差（D） 通过表盘下自由移动的插针(1)测量，两个支脚(2) 置于涂层表面（图1）。
 表盘仪器密闭在一镀铬的金属壳中。支脚从 仪器底部伸出，插针有保护套。保护套一侧的槽 用于调节插针，插针通过一块玻璃板的平面调节， 此配件包括在供货范围中。带附件的表盘装在一 个盒子中。
 取下保护罩，将仪器垂直放在玻璃板平面上，如果指针读数不为零，可以通过保护套中的槽调 节，直至指针达到零位，。
 在测量点处，涂层需被小心刮开一个3mm的区域，直至达到基材。
 将仪器放在测量区域上，使插针接触到裸露基材，干膜厚度能直接读出，单位m。
 如果是柔软涂层，可在支脚下垫一块剃刀。